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2014年

双阵列缝干涉测量光的轨道角动量和偏振

来源:武汉光电国家研究中心     作者:    发布时间:2014年10月08日    浏览:

  轨道角动量(OAM)已经被广泛应用于各个领域,比如产生Pancharatnam–Berry相位,光学显微镜,微粒操纵,量子通信,自由空间和光线通信等等。OAM光光学系统一个重要的基本功能就是测量OAM。现报道的测量方法有平面波干涉法,自零差探测法,笛卡尔-对数极坐标转换法,以及各种孔径和狭缝衍射法等,但是和输入光的偏振态无关。
  由物理学中经典的杨氏双缝干涉实验产生联想,武汉光电国家实验室光电子器件与集成功能实验室张新亮教授、董建绩教授和博士周海龙等人提出了一种基于亚波长阵列金属缝的双峰干涉装置,该装置可以同时测量光的OAM和偏振态。亚波长金属缝可以看做局部偏振器,每个狭缝阵列可以当做一个等宽的衍射缝。当OAM光束垂直入射时,干涉条纹会扭曲,扭曲方向与拓扑荷的符号相关,扭曲量跟拓扑荷的大小成线性关系,给出了详细的理论分析。这个模型不需要额外的参考光且是一个线性模型。
  5月23日,美国光学学会(OSA)旗下期刊《光学快报》(Optics Letters)上在线刊发了该研究成果[1]。该研究成果获得了国家973研究计划(Grant No. 2011CB301704)、教育部新世纪优秀人才支持计划(Grant No. NCET-11-0168)、全国百优博士论文基金(Grand No. 201139)和国家自然科学基金(Grant No. 11174096)的支持。发表的文章全文链接为:
http://ol.osa.org/abstract.cfm?URI=ol-39-11-3173
[1]H. Zhou, S. Yan, J. Dong, and X. Zhang, "Double metal subwavelength slit arrays interference to measure the orbital angular momentum and the polarization of light," Optics Letters, vol. 39, pp. 3173-3176, 2014/06/01 2014.

         图: 双缝干涉原理示意图. Inset,狭缝阵列结构.

(责任编辑:陈智敏)