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武汉光电论坛第221期:半导体材料界面声子的测量与物性研究

来源:   作者:  发布时间:2024年11月04日  点击量:

报告题目:半导体材料界面声子的测量与物性研究

时间:2024年11月11日15:00-16:30

报告人:高鹏 教授,北京大学

邀请人:戴江南 教授,华中科技大学

地点:华中科技大学新光电信息大楼C117

报告人简介:

高鹏,北京大学博雅特聘教授,电子显微镜实验室主任。获得中国科学院物理研究所凝聚态物理学博士学位, 曾在美国密歇根大学、美国布鲁克海文国家实验室、日本东京大学从事研究工作,历任北京大学助理教授、长聘副教授、教授。从事原子尺度界面科学研究,主要兴趣是研究界面原子结构、电子结构、声子结构、非平衡态等,从而指导设计制备原子尺度的功能界面。发表研究论文三百余篇,含十多篇《自然》/《科学》、六十多篇子刊系列、十余篇《物理评论快报》等。多次入选科睿唯安、爱思唯尔高被引科学家。部分研究工作入选中国电子科技十大进展、中国光学十大进展、中国半导体十大研究进展、中国十大科技进展新闻候选等。

报告摘要:

声子描述了物质中原子的振动行为,也是物质中热、电、力、光等物理过程的纽带,因此声子技术在生产生活和前沿科技中有广泛应用。但在表界面科学和纳米科学领域里,由于缺少同时具备高空间分辨和动量分辨能力,对单个界面和单个纳米结构的声子色散的测量一直存在挑战。近年来我们基于扫描透射电子显微镜的电子能量损失谱,发明了“四维电子能量损失谱”技术,克服了传统谱学无法同时具备高动量分辨和纳米级空间分辨的缺点,将声子色散测量的空间分辨率提高至纳米量级。据此,我们能够绘制单个纳米结构、单个异质结界面、二维材料边缘的声子色散分布图。该谱学测量方法有助推动纳米尺度上晶格动力学在的前沿研究,有望在凝聚态物理、材料科学与工程、信息技术等领域发挥作用。在本报告中,我们重点探讨半导体材料中的局域声子的测量,及它们在半导体界面热输运中的作用。