中科院上海微系统与信息技术研究所曹俊诚教授团队:具有侧面取样光栅的单模太赫兹量子级联激光器
第一作者:邵棣祥
通讯作者:曹俊诚
通讯单位:中科院上海微系统与信息技术研究所太赫兹固态技术重点实验室
研究背景
量子级联激光器(QCL)是一种基于多量子阱子带间跃迁的半导体激光器,在1~5 THz频率范围内, QCL是最有效的电泵浦太赫兹(THz)辐射源,具有结构紧凑、易集成、输出功率高和转换效率高等优点。自2002年首次报道以来,THz-QCL得到了快速的发展。对于吸收光谱、通信和外差混频等大多数应用而言,单纵模、宽调谐范围的THz-QCL都是必要的。另一方面,由于大气中的水蒸气对太赫兹辐射有明显的衰减作用,因此大多数实际应用中希望THz-QCL具有较高的输出功率。为了实现单模THz-QCL,通常采用一阶、二阶和三阶分布反馈(DFB)光栅,其中侧面DFB光栅可以与脊波导同时制作,因此采用传统的制作工艺时不需要额外的步骤。采用一阶侧面DFB光栅的半绝缘表面等离子体波导THz-QCL已经实现了单模激射。
内容简介
取样光栅在光通信和中红外波段半导体激光器中得到了广泛的应用,而本文中,曹教授团队将其用于THz-QCL以提高输出功率,并实现单模工作。在侧面光栅中采用周期性取样的结构,可以降低侧面DFB光栅导致的波导宽度突然变化带来的传输损耗,还可以改善激光器的模式选择特性,从而实现单纵模激射。曹教授团队制作的侧面取样光栅THz-QCLs与传统的DFB光栅器件相比,输出峰值功率提高了11.8%,在10K时边摸抑制比(SMSR)大于20dB,且侧面取样光栅结构不会影响激光器的远场分布。
图文简介
一、器件设计和制作
有源区:基于束缚态向连续态跃迁和共振声子散射结合的结构,总厚度11μm,设计激射频率3.4THz。
波导结构:半绝缘表面等离子体波导,光场限制在顶层金属层和有源区下方的高掺杂n型接触层之间,并延伸到半绝缘衬底中。
光栅结构:如图1(a)所示,脊宽WW=120μm,WN=100μm,一阶光栅周期Λ=12.28μm,制作了取样光栅占空比分别为1(均匀光栅)、1/2/和1/3的芯片以进行比较。
制作工艺:外延层采用分子束外延(MBE)制作,Ti-Au顶部金属电极采用电子束蒸发和剥离工艺制作,脊波导和侧面取样光栅采用感应耦合等离子体(ICP)刻蚀工艺和湿法刻蚀工艺制作,侧面Ge/Au/Ni/Au电极通过蒸发和退火工艺形成。衬底减薄至150μm后背面沉积Ti/Au层,然后解理为2.5mm长度的器件并焊接到铜热沉上。
图1(a)侧面取样光栅THz-QCL的示意图,(b)脊宽120μm时基模场分布的仿真结果,(c)所制作器件的顶视图
二. 测试结果
测试时器件安装在一个带有聚乙烯窗口的闭氦低温恒温器上,脉冲电源的脉宽为5μs,重复频率为5kHz。
采用热电堆功率计测量器件的脉冲P-I特性曲线,如图2所示,10K温度下侧面取样光栅THz-QCL的阈值电流为550A/cm2,略低于DFB光栅的情况,当取样光栅占空比为1/3时峰值输出功率取得最大值,与DFB光栅的情况相比增加了11.8%。这是因为与等长的DFB光栅相比取样光栅的光栅部分长度更短,因此减小了由于波导宽度的突变而导致光传输损耗。考虑到更大的占空比会造成光栅模式选择特性的减弱,实际中必须折中考虑输出功率和模式特性。
图2 10K、脉冲工作模式下侧面取样光栅THzQCLs的测试结果(a)P-I特性曲线和占空比为1/2时的V-I特性曲线;b)P-I特性的放大图;(c)占空比为1时的发射光谱
采用傅里叶红外光谱仪测量了器件的光谱特性。图3(a)显示FP腔器件具有典型的多纵模输出特性,而侧面取样光栅器件可以实现单纵模工作。图3(b)显示不同占空比的侧面取样光栅器件激射光谱的峰值不同,这可能来源于解理面位置不同带来的相移。占空比为1/2和1/3的器件SMSR分别可达24dB和20dB。
图3(a)占空比为1/2的侧面取样光栅与F-P结构THzQCLs发射光谱的比较;(b)10K、2.1A驱动电流的脉冲工作模式下占空比为1/2和1/3的侧面取样光栅THzQCLs发射光谱的比较
通过在离激光发射面约15cm的球面上旋转Golay探测器,测量了器件的远场分布,典型结果如图4(b)所示。测试结果表明器件具有单横模的特性,在半高全宽处测得侧向发散角(θ)为44°,横向发散角(Φ)为40°。
图4(a)远场测试中扫描角度的示意图;(b)测量得到的二维远场分布,侧面取样光栅THzQCLs的占空比为1/2,驱动电流为1.86A
总结
我们提出并实验验证了一种基于侧向取样光栅的THzQCLs,该器件具有工艺简单、成本低、输出功率高、可实现单模工作的优点。测试结果表明:侧向取样光栅THz-QCL的峰值功率随光栅占空比减小而增加,占空比为1/3时的输出峰值功率比DFB-THz-QCLs提高了11.8%。测试结果表明还显示,侧向取样光栅THz-QCLs的边模抑制比大于20dB,且取样光栅对器件的远场特性几乎没有影响。
作者介绍
曹俊诚,1994年获东南大学电子工程系博士学位。现任中科院上海微系统与信息技术研究所研究员(国家二级)、博士生导师。曹俊诚是国家杰出青年基金获得者、中科院“百人计划”入选者、国务院政府特殊津贴获得者、新世纪百千万人才工程国家级人选、国家科技部/基金委重大仪器项目首席科学家、上海市“优秀学科带头人计划”入选者、上海市自然科学牡丹奖获得者、江西省首批国家级引进人才入选者和“中国科学院优秀教师”称号获得者。担任国家第六代移动通信(6G)技术研发总体专家组专家、国家太赫兹技术领域主题专家组专家。兼任北京大学、上海交通大学、上海科技大学、华中科技大学和南昌大学等兼职/特聘教授。
曹俊诚主要从事太赫兹器件及其通信与成像应用等研究工作,在Phys. Rev. Lett., Nature Comm., Adv. Science等发表SCI论文300余篇;在国内外重要学术会议上做大会邀请报告等100余次;出版专著《半导体太赫兹源、探测器与应用》(科学出版社,2012年2月)、《太赫兹光电测试技术》,(华东理工大学出版社,2020年10月);主编《战略前沿新技术—太赫兹出版工程》序列丛书(华东理工出版社);已授权国家发明专利51项,受理国家发明专利53项。