报告题目：半导体材料界面声子的测量与物性研究

时间：2024年11月11日15:00-16:30

报告人：高鹏 教授，北京大学

邀请人：戴江南 教授，华中科技大学

地点：华中科技大学新光电信息大楼C117

报告人简介：

高鹏，北京大学博雅特聘教授，电子显微镜实验室主任。获得中国科学院物理研究所凝聚态物理学博士学位， 曾在美国密歇根大学、美国布鲁克海文国家实验室、日本东京大学从事研究工作，历任北京大学助理教授、长聘副教授、教授。从事原子尺度界面科学研究，主要兴趣是研究界面原子结构、电子结构、声子结构、非平衡态等，从而指导设计制备原子尺度的功能界面。发表研究论文三百余篇，含十多篇《自然》/《科学》、六十多篇子刊系列、十余篇《物理评论快报》等。多次入选科睿唯安、爱思唯尔高被引科学家。部分研究工作入选中国电子科技十大进展、中国光学十大进展、中国半导体十大研究进展、中国十大科技进展新闻候选等。

报告摘要：

声子描述了物质中原子的振动行为，也是物质中热、电、力、光等物理过程的纽带，因此声子技术在生产生活和前沿科技中有广泛应用。但在表界面科学和纳米科学领域里，由于缺少同时具备高空间分辨和动量分辨能力，对单个界面和单个纳米结构的声子色散的测量一直存在挑战。近年来我们基于扫描透射电子显微镜的电子能量损失谱，发明了“四维电子能量损失谱”技术，克服了传统谱学无法同时具备高动量分辨和纳米级空间分辨的缺点，将声子色散测量的空间分辨率提高至纳米量级。据此，我们能够绘制单个纳米结构、单个异质结界面、二维材料边缘的声子色散分布图。该谱学测量方法有助推动纳米尺度上晶格动力学在的前沿研究，有望在凝聚态物理、材料科学与工程、信息技术等领域发挥作用。在本报告中，我们重点探讨半导体材料中的局域声子的测量，及它们在半导体界面热输运中的作用。