2009年5月15日，应武汉光电国家实验室（筹）微光机电研究团队的邀请，马里兰大学高级寿命循环工程中心主任Michael Pecht访问实验室，并为师生们做题为《A New Perspective on Electronic Product Reliability》（电子产品可靠性新视角和展望）的学术报告。
Michael Pecht教授的报告深入浅出的介绍了可靠性设计和实际鉴定，加速测试甄选和质量保证，预测和健康管理，供应链评定和管理，寿命风险、成本分析和管理的合格电子系统的风险预测和管理策略等电子可靠性分析方面的研究成果。
讲座最后，老师和同学们积极提出封装可靠性的问题及看法，Michael Pecht教授一一做了解答。
据悉，Michael Pecht，马里兰大学高级寿命循环工程中心（CALCE）主任，威斯康辛大学电子工程硕士、工程力学硕士和博士， IEEE、ASME、IMAPS FELLOW，2008年获得最高可靠性荣誉IEEE可靠性社会终生成就奖。历任IEEE可靠性学报主编八年、IEEE光谱社会的咨询委员会成员，微电子可靠性杂志主编和IEEE器件封装技术副编辑，马里兰大学CALCE的创始人，机械工程系George Dieter首席教授和应用数学系教授。著有20多本电子产品发展、应用和供应链管理的书籍和超过400篇科技文章。他领导的症断领域研究团队，在过去的十年为100多家主要国际电子公司提供咨询，并在战略计划、设计、测试、诊断，IP、电子产品系统风险评估方面提供专业知识。由于他在可靠性研究方面的杰出贡献，获得欧洲微纳米可靠性奖、电子封装3M研究奖和IMAPS William D. Ashman Memorial 成就奖。