2019年3月，由欧洲设计与自动化协会举办的“欧洲设计，自动化及测试会议”在意大利佛罗伦萨举办。华中科技大学武汉光电国家研究中心的谢长生、吴非老师和博士生覃鸿巍，江天明，汤陈蕾，刘伟华参加了此次会议。

　　会议主要包括D，A，T，E四个部分，分别着眼于设计理论与工具、应用设计、测试与辅助、嵌入式与信息物联系统四大方面展开。此外，会议还包括有Tutorials，博士生论坛，workshops等环节，用于加强计算机领域从业人员之间的交流。会议还设置有展览，来自世界各地的公司、企业纷纷在展览区域展示自己最新的研究成果，并回答参观人员的提问。

通过进行学术报告以及海报的方式，四名博士生展示了自己最新的研究工作，并与行业人员进行了学术交流。

　　3月26日下午，博士生刘伟华在测试与可靠性分会场做题目为Characterizing the Reliability and Threshold Voltage Shifting of 3D Charge Trap NAND Flash的报告，并在墙报做研究工作的展示。报告的墙报吸引了大量相关学者的关注。

　　3月28日上午，博士生汤陈蕾在分会场SSD和数据放置做题目为RAFS: A Raid-Aware File System to Reduce the Parity Update Overhead for SSD RAID的报告，并在报告后的问答环节与听众进行了互动。报告受到了一些学者的肯定。

　　3月28日上午，博士生江天明在分会场自适应资源管理做题目为Scrub Unleveling: Achieving High Data Reliability at Low Scrubbing Cost的口头报告，报告得到了一些学者的关注，并在问答环节与现场学者进行了交流，该研究成果得到了学者的肯定。

　　会议每天早上8：30开始，下午18：30结束。会议开始前或结束后可以在佛罗伦萨城市里逛逛。整个城市面积大概只有三个华科校园大小，步行就可以感受欣赏到浓厚的艺术气息。

晚霞中的阿诺河 佛罗伦萨